錫膏厚度測(cè)試儀在SMT制程中應(yīng)用非常廣泛，已成為SMT工藝流程中缺一不可的角色，生產(chǎn)人員可以通過(guò)它檢查出錫膏的印刷品質(zhì)問(wèn)題，所以它的測(cè)量準(zhǔn)確性就顯得非常重要了。

一、錫膏厚度測(cè)試儀原理

錫膏測(cè)厚儀主要用來(lái)測(cè)量線路板上焊錫層的厚度，其原理是由激光器發(fā)射一條很細(xì)的激光束以一定的角度照射到線路板上,然后用攝像頭觀測(cè)激光束在線路板形成的細(xì)直線。錫膏的高度會(huì)與其底面(線路板)形成一定的高度差，從而使激光線形成的一定的斷差。根據(jù)激光形成的斷差，以三角函數(shù)關(guān)系就可以計(jì)算出錫膏與線路板之間的高度差。山東芯演欣電子科技發(fā)展有限公司  聯(lián)系電話：18865375835

                                   1、外觀檢查

①測(cè)厚儀必須標(biāo)有型號(hào)、出廠編號(hào)、生產(chǎn)廠家等標(biāo)識(shí)

②測(cè)量設(shè)備與測(cè)量系統(tǒng)通信連接是否正常

③光學(xué)影像系統(tǒng)工作正常，影像清晰度必須可調(diào)，光學(xué)放大倍率可調(diào)至適用要求并能與焦度調(diào)節(jié)使影像清晰

④移動(dòng)平臺(tái)或工作臺(tái)可在X軸和Y軸方向移動(dòng)并具有困定鎖緊裝置

⑤測(cè)量工作面的平面度使用平晶或一級(jí)的刀口直尺檢測(cè)應(yīng)無(wú)光環(huán)或透光現(xiàn)象

2、測(cè)量系統(tǒng)示值誤差校準(zhǔn)

①使用標(biāo)準(zhǔn)量塊作標(biāo)準(zhǔn)器校準(zhǔn)。把標(biāo)準(zhǔn)量塊用無(wú)塵布或?qū)I(yè)鏡頭紙擦凈表面油脂；將平面平晶放置于錫膏厚度測(cè)試儀的測(cè)試臺(tái)，以平晶的工作平面作為基準(zhǔn)面。再將標(biāo)準(zhǔn)量塊放置于基準(zhǔn)面上，以基準(zhǔn)面于量塊的高度差作為單次測(cè)量的結(jié)果。根據(jù)儀器測(cè)量范圍，必須校準(zhǔn)不小于3個(gè)測(cè)量點(diǎn)，測(cè)量點(diǎn)取值應(yīng)均勻分布。每個(gè)測(cè)量點(diǎn)重復(fù)測(cè)量5次求平均值作為該測(cè)量點(diǎn)的校準(zhǔn)結(jié)果

②使用儀器配置的校準(zhǔn)塊作標(biāo)準(zhǔn)器校準(zhǔn)。對(duì)于有些標(biāo)配有錫膏標(biāo)準(zhǔn)片的儀器，可用光學(xué)計(jì)和標(biāo)準(zhǔn)量塊對(duì)錫膏標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)，再以校準(zhǔn)結(jié)果作為標(biāo)準(zhǔn)值對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，每個(gè)測(cè)量點(diǎn)重復(fù)5次求平均值作為該測(cè)量點(diǎn)的校準(zhǔn)結(jié)果。
測(cè)量結(jié)果誤差計(jì)算：
Y=X-X0
其中：Y——示值測(cè)量誤差
X——測(cè)量平均值示值
0——標(biāo)準(zhǔn)器標(biāo)稱值

③測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量重復(fù)性校準(zhǔn)。
選取第②測(cè)量過(guò)程中示值穩(wěn)定的標(biāo)準(zhǔn)值作為測(cè)量重復(fù)性校準(zhǔn)，對(duì)任一測(cè)量點(diǎn)作10次或更高次數(shù)的重復(fù)測(cè)量，對(duì)于每組測(cè)量的結(jié)果應(yīng)使用極差法或殘差法清除測(cè)量中的異值，測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量重復(fù)性。

雖然錫膏厚度測(cè)試儀在SMT行業(yè)扮演著重要的角色，但到目前為止還沒(méi)有相應(yīng)的規(guī)程規(guī)范或標(biāo)準(zhǔn)，而只有通過(guò)確立相應(yīng)的錫膏厚度測(cè)試儀的校準(zhǔn)指南，才能提高錫膏厚度測(cè)試儀的準(zhǔn)確性。