AOI檢測(cè)是采用了計(jì)算機(jī)技術(shù)、高速圖像處理和識(shí)別技術(shù)、自動(dòng)控制技術(shù)、精密機(jī)械技術(shù)和光學(xué)技術(shù)整合形成的一種綜合檢測(cè)技術(shù)，具有自動(dòng)化程度高、檢測(cè)速度快和高分辨率的檢測(cè)能力，可以減輕勞動(dòng)強(qiáng)度，提高判別準(zhǔn)確性，具有良好的通用性，是SMT一道關(guān)鍵的程序。AOI檢測(cè)算法主要有亮度計(jì)算法和圖像識(shí)別法。

（1）亮度計(jì)算法：亮度計(jì)算法是利用亮度分布來(lái)進(jìn)行計(jì)算，檢測(cè)焊接過(guò)程中出現(xiàn)的不良現(xiàn)象，這種算法可以獲得窗口內(nèi)的亮度梯度，窗口內(nèi)各像素沿著長(zhǎng)邊方向的亮度差就是分布狀態(tài)，寬度值是用來(lái)屏蔽掉窗口內(nèi)灰塵或其它瑕疵的檢測(cè)結(jié)果的影響，灰塵或其它瑕疵會(huì)對(duì)亮度起很大的干擾并影響檢測(cè)結(jié)果的精度。

（2）圖像識(shí)別法：圖像識(shí)別法是利用圖像對(duì)比來(lái)進(jìn)行計(jì)算，分析，比較，從而獲得檢測(cè)結(jié)果。這種算法可以在檢測(cè)窗口內(nèi)搜尋與已知圖像相似的圖像，并判斷其相似程度，根據(jù)相似的程度，檢測(cè)焊接過(guò)程中出現(xiàn)的不良現(xiàn)象。這種算法在IC中的應(yīng)用，可以測(cè)出移位、反向、漏料、錯(cuò)料等缺陷。

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