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設(shè)計缺陷對檢驗檢測的影響

作者:sdxyx    發(fā)布時間:2022-08-03 09:03:45    瀏覽量:

設(shè)計缺乏可檢測性造成檢測困難

  • 元器件間距過小。

  • 較高元器件附近未留足空間,飛針等設(shè)備無法操作。

  • 測試點隱藏或遮蔽(如測試點設(shè)計在元器件底部)而無法接觸電測試點。測試點尺寸、間距過小和焊盤可焊性涂層材料用OSP。


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