多數(shù)的電路板生產(chǎn)廠家目前使用IPC的規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)檢查錫鉛接點(diǎn)，至這些基本的特性狀態(tài)不應(yīng)該因?yàn)檗D(zhuǎn)換為無(wú)鉛系統(tǒng)而太大的改變。對(duì)于焊錫爬升高度以及孔的填充方面基本上維持原有的水準(zhǔn)，至于焊接墊（Soldering Pad )的方面則對(duì)于覆蓋范圍有些微的修正。多數(shù)的組裝廠對(duì)于外觀檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)，似乎并沒(méi)有太大的變動(dòng)，因此全面性的重新學(xué)習(xí)未必是必要的工作。下圖所示，為典型的引腳焊接成果，不同的焊錫組成確實(shí)有一點(diǎn)差異，但是主要的結(jié)構(gòu)差異似乎并不是來(lái)自于焊錫的組成問(wèn)題。

開始采用無(wú)鉛組裝的階段，增加制程內(nèi)的監(jiān)控是必要的手段，多與電路板同業(yè)間作良率的比較并了解差異性，會(huì)對(duì)技術(shù)的提升有所助益。

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X-Ray檢查的采用

基本上并沒(méi)有跡象顯示無(wú)鉛材料的采用，對(duì)于x-ray的檢查工作會(huì)產(chǎn)生負(fù)面影響。多數(shù)設(shè)備商的經(jīng)驗(yàn)，對(duì)于不同的無(wú)鉛合金組成檢測(cè)都可已有不錯(cuò)的缺點(diǎn)偵測(cè)力。下圖所示，為典型的錫球x-「ay偵測(cè)設(shè)備及檢測(cè)結(jié)果。